Дифракционный анализ: учеб. пособие

Этот товар закончился.

Описание и характеристики

Рассмотрены основные положения фишки рентгеновских лучей, рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического применения для исследования кристаллов. .Для студентов, специализирующихся в области физики и химии конденсированного состояния, металлофизики и радиационного материаловедения. Может быть полезно аспирантам, инженерам и исследователям. .
ID товара 2378287
Издательство Вышэйшая школа
Год издания
ISBN 978-985-06-1834-4
Количество страниц 215
Размер 1.3x13.7x20.7
Тип обложки Твёрдый переплёт
Тираж 400
Вес, г 270

Отзывы

15 бонусов

за полезный отзыв длиной от 300 символов

15 бонусов

если купили в интернет-магазине «Читай-город»

Полные правила начисления бонусов за отзывы
Оставьте отзыв и получите бонусы
Оставьте первый отзыв и получите за него бонусы.
Это поможет другим покупателям сделать правильный выбор.
Рассмотрены основные положения фишки рентгеновских лучей, рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического применения для исследования кристаллов. .Для студентов, специализирующихся в области физики и химии конденсированного состояния, металлофизики и радиационного материаловедения. Может быть полезно аспирантам, инженерам и исследователям. .