Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии (Мир наук о земле). Рид С. (Техносфера)
Этот товар закончился.
Описание и характеристики
ID товара
2165229
Издательство
Техносфера
Серия
Мир наук о земле
Год издания
2008
ISBN
978-5-94-836177-2, 978-5-94836-177-2
Количество страниц
232
Размер
0x0x0
Тип обложки
Твёрдый переплёт
Вес, г
500
Отзывы
15 бонусов
за полезный отзыв длиной от 300 символов
15 бонусов
если купили в интернет-магазине «Читай-город»
Оставьте отзыв и получите бонусы
Оставьте первый отзыв и получите за него бонусы.
Это поможет другим покупателям сделать правильный выбор.
В предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, основные принципы формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно изложены процедуры качественного и количественного рентгеноспектрального анализа.
.
.Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.