Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении (МФиТ) Шварц
Описание и характеристики
ID товара
2621447
Издательство
Техносфера
Год издания
2018
ISBN
978-5-94-836385-1, 978-5-94836-385-1
Размер
3.4x17.5x24.7
Вес, г
649
1 569 ₽
+ до 235 бонусов
Последний экземпляр
В магазины сети, бесплатно
СегодняАдреса магазинов
Другие способы доставки
Отзывы
15 бонусов
за полезный отзыв длиной от 300 символов
15 бонусов
если купили в интернет-магазине «Читай-город»
Оставьте отзыв и получите бонусы
Оставьте первый отзыв и получите за него бонусы.
Это поможет другим покупателям сделать правильный выбор.
Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ. Перевод на русский язык второго оригинального издания книги МЕТОД ДИФРАКЦИИ ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ В МАТЕРИАЛОВЕДЕНИИ является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области. Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.