Методы математического моделирования измерительно-вычислительных систем

Описание и характеристики

В монографии рассмотрены элементы математической теории измерительно-вычислительных систем (ИВС) как средств измерений, основанной на математическом формализме редукции измерений, позволяющем по результатам измерений в системе "измеряемый объект-среда-измерительный прибор" получать наиболее точное описание ненаблюдаемой системы "исследуемый объект-среда", не искаженной измерениями. Теория ИВС позволяет формулировать требования к измерительной компоненте ИВС, обеспечивающие наивысшее качество ИВС как средства измерений, оценивать адекватность математической модели измерений на ИВС, состоятельность получаемых на ее выходе значений параметров исследуемого объекта, оценок погрешностей и т.д. .Первое издание - 2002 г. .Для научных работников и инженеров физико-математических специальностей.
ID товара 2761513
Издательство Физматлит
Год издания
ISBN 978-5-9221-1276-5
Размер 2.1x14.6x22.1
Вес, г 519
1 879 ₽
+ до 281 бонуса
Последний экземпляр

В магазины сети, бесплатно

СегодняАдреса магазинов

Другие способы доставки
1

Отзывы

15 бонусов

за полезный отзыв длиной от 300 символов

15 бонусов

если купили в интернет-магазине «Читай-город»

Полные правила начисления бонусов за отзывы
Оставьте отзыв и получите бонусы
Оставьте первый отзыв и получите за него бонусы.
Это поможет другим покупателям сделать правильный выбор.
В монографии рассмотрены элементы математической теории измерительно-вычислительных систем (ИВС) как средств измерений, основанной на математическом формализме редукции измерений, позволяющем по результатам измерений в системе "измеряемый объект-среда-измерительный прибор" получать наиболее точное описание ненаблюдаемой системы "исследуемый объект-среда", не искаженной измерениями. Теория ИВС позволяет формулировать требования к измерительной компоненте ИВС, обеспечивающие наивысшее качество ИВС как средства измерений, оценивать адекватность математической модели измерений на ИВС, состоятельность получаемых на ее выходе значений параметров исследуемого объекта, оценок погрешностей и т.д. .Первое издание - 2002 г. .Для научных работников и инженеров физико-математических специальностей.