Методы математического моделирования измерительно-вычислительных систем: монография

Описание и характеристики

В издании рассмотрены элементы математической теории измерительно-вычислительных систем (ИВС) как средств измерений, основанной на математическом формализме редукции измерений, позволяющем по результатам измерений в системе «измеряемый объект–среда–измерительный прибор» получать наиболее точное описание ненаблюдаемой системы «исследуемый объект–среда», не искаженной измерениями. Теория ИВС позволяет формулировать требования к измерительной компоненте ИВС, обеспечивающие наивысшее качество ИВС как средства измерений, оценивать адекватность математической модели измерений на ИВС, состоятельность получаемых на ее выходе значений параметров исследуемого объекта, оценок погрешностей и т. д.
Для научных работников и инженеров физико-математических специальностей.
ID товара 3067984
Издательство МГУ
Год издания
ISBN 978-5-19-011967-1
Количество страниц 432
Размер 2.9x15x22.5
Тираж 450
Вес, г 660
2 519 ₽
+ до 377 бонусов
Последний экземпляр

В магазины сети, бесплатно

СегодняАдреса магазинов

Другие способы доставки
1

Отзывы

15 бонусов

за полезный отзыв длиной от 300 символов

15 бонусов

если купили в интернет-магазине «Читай-город»

Полные правила начисления бонусов за отзывы
Оставьте отзыв и получите бонусы
Оставьте первый отзыв и получите за него бонусы.
Это поможет другим покупателям сделать правильный выбор.
В издании рассмотрены элементы математической теории измерительно-вычислительных систем (ИВС) как средств измерений, основанной на математическом формализме редукции измерений, позволяющем по результатам измерений в системе «измеряемый объект–среда–измерительный прибор» получать наиболее точное описание ненаблюдаемой системы «исследуемый объект–среда», не искаженной измерениями. Теория ИВС позволяет формулировать требования к измерительной компоненте ИВС, обеспечивающие наивысшее качество ИВС как средства измерений, оценивать адекватность математической модели измерений на ИВС, состоятельность получаемых на ее выходе значений параметров исследуемого объекта, оценок погрешностей и т. д.
Для научных работников и инженеров физико-математических специальностей.