Патентные ландшафты. Разработка и использование для анализа технологических трендов
Описание и характеристики
Публикация имеет прикладной характер и рассчитана на широкий круг читателей: аналитиков, менеджеров, деятельность которых связана с управлением исследованиями и разработками, ученых, преподавателей высшей школы, аспирантов и других лиц, интересующихся развитием и оценкой технологий.
ID товара
3067691
Издательство
Издательский дом Высшей школы
Год издания
2024
ISBN
978-5-7598-3017-7
Количество страниц
108
Размер
0.5x14.3x20.4
Тип обложки
Мягкий переплёт
Тираж
450
Вес, г
192
1 309 ₽
+ до 196 бонусов
Осталось мало
В магазины сети, бесплатно
СегодняАдреса магазинов
Другие способы доставки
Отзывы
15 бонусов
за полезный отзыв длиной от 300 символов
15 бонусов
если купили в интернет-магазине «Читай-город»
Оставьте отзыв и получите бонусы
Оставьте первый отзыв и получите за него бонусы.
Это поможет другим покупателям сделать правильный выбор.
Издание содержит подробные рекомендации по формированию патентного ландшафта – проведению анализа патентных документов и научно-технической информации в целях изучения состояния, трендов и перспектив развития технологических областей или отдельных технологий. Последовательно рассматриваются основные понятия патентного анализа и источники данных для него, исследовательские методы и аналитические представления, используемые в патентных ландшафтах, алгоритм их построения и особенности применения. Методологические и практические рекомендации сопровождаются примерами по результатам анализа патентной активности в различных технологических областях.
Публикация имеет прикладной характер и рассчитана на широкий круг читателей: аналитиков, менеджеров, деятельность которых связана с управлением исследованиями и разработками, ученых, преподавателей высшей школы, аспирантов и других лиц, интересующихся развитием и оценкой технологий.
Публикация имеет прикладной характер и рассчитана на широкий круг читателей: аналитиков, менеджеров, деятельность которых связана с управлением исследованиями и разработками, ученых, преподавателей высшей школы, аспирантов и других лиц, интересующихся развитием и оценкой технологий.