Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке

Описание и характеристики

Приведены сведения об основах и принципах проведения растровой электронной микроскопии. Описаны основные функциональные возможности Hitachi 3400N. Показаны результаты научных исследований в решении инженерных задач с применением растрового электронного микроскопа: качественный анализ распределения легирующих элементов как по плоскости сканируемого образца, так и по заданному направлению, фрактография, диффузионные слои в сварных соединениях, изучение поверхности свариваемых кромок и сварочной проволоки, причин порообразования в металле шва и другое. Включены как обобщение многочисленных публикаций в отечественной и зарубежной специализированной литературе, так и собственные исследования авторов. Для студентов, магистров, аспирантов технических университетов и институтов, а также специалистов НИИ, КБ, предприятий авиационно-космического комплекса. Материалы книги могут служить основой для разработки технологических рекомендаций, стандартов, определяющих содержание учебных планов, учебно-методических пособий, для профессиональной подготовки инженерных и научных кадров.
ID товара 3039055
Издательство Инфра-Инженерия
Год издания
ISBN 978-5-9729-2061-7
Количество страниц 148
Размер 1.3x15.3x21.7
Тип обложки Твёрдый переплёт
Вес, г 290
1 989 ₽
+ до 298 бонусов
Последний экземпляр

В магазины сети, бесплатно

ЗавтраАдреса магазинов

Другие способы доставки
1

Отзывы

15 бонусов

за полезный отзыв длиной от 300 символов

15 бонусов

если купили в интернет-магазине «Читай-город»

Полные правила начисления бонусов за отзывы
Оставьте отзыв и получите бонусы
Оставьте первый отзыв и получите за него бонусы.
Это поможет другим покупателям сделать правильный выбор.
5.0
1 оценка
0
0
0
0
1
Приведены сведения об основах и принципах проведения растровой электронной микроскопии. Описаны основные функциональные возможности Hitachi 3400N. Показаны результаты научных исследований в решении инженерных задач с применением растрового электронного микроскопа: качественный анализ распределения легирующих элементов как по плоскости сканируемого образца, так и по заданному направлению, фрактография, диффузионные слои в сварных соединениях, изучение поверхности свариваемых кромок и сварочной проволоки, причин порообразования в металле шва и другое. Включены как обобщение многочисленных публикаций в отечественной и зарубежной специализированной литературе, так и собственные исследования авторов. Для студентов, магистров, аспирантов технических университетов и институтов, а также специалистов НИИ, КБ, предприятий авиационно-космического комплекса. Материалы книги могут служить основой для разработки технологических рекомендаций, стандартов, определяющих содержание учебных планов, учебно-методических пособий, для профессиональной подготовки инженерных и научных кадров.